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碳膜电阻检测

检测报告图片样例

检测样品

金刚石膜、石墨烯膜、碳纳米管膜、活性炭膜、等离子增强化学气相沉积、生长的非晶碳膜、蒸发碳膜等等。

检测项目

光学性能:包括可见光透过率、红外线透过率、紫外线透过率和表面反射率等。

耐候性能:包括耐暴晒、抗老化、耐高温等。

机械性能:包括耐刮擦、耐磨损、拉伸强度和撕裂强度等。

化学稳定性:包括对酸、碱、盐水等的耐受性。

粘附力:包括与基材的粘附力和膜层之间的粘附力。

导电性:包括电阻率和导电系数等。

防紫外线性能:包括对紫外线的吸收和反射等。

检测周期

一般7-10个工作日出具报告,可加急。

参考标准规范

KS C 6413-1974(1997) 孤立状碳膜固定电阻器

KS C 6417-1985(2000) 碳膜电阻器

KS C 5117-2003 绝缘碳膜电阻器

KS C 6409-2002 通用碳膜可调电位器

JUS N.R3.101-1981 碳膜电阻器.固定式、低功率、标准稳定性,气候特性55/155/56

SJ/T 10617-2017 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器 RT13型碳膜固定电阻器 评定水平E

GB/T 12635-1990 碳膜电阻器用陶瓷基体

JIS C5212-1995 电子设备用圆柱体碳膜片层固定电阻器(形状27,特性D及G,等级C)

JIS C6407-1992 用于电气设备的绝缘固定碳膜电阻器

JB/T 5632-1991 碳膜电阻渗碳炉 能耗分等

YS/T 613-2006 碳膜电位器用电阻浆料

KS C 5117-2003(2018) 孤立状碳膜固定电阻器

GB 12635-1990 碳膜电阻器用陶瓷基体

SJ/T 11171-2016 单、双面碳膜印制板分规范

KS C 6370-1995(2000) 电子设备碳膜固定电阻器使用(特征D和G)

检测流程步骤

检测流程步骤

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